三丰推出具有世界最高精度的测量显微镜Hyper MF/MF-U
Hyper MF
三丰（总部：神奈川县川崎市高津区，总裁：手塚和作）开发出Hyper MF/MF-U型高精度测量显微镜，并已投入生产和销售。新产品不仅可操作性大大提高，同时还实现了极高的精度，远远超过日本工业标准（JIS）0级水平。新产品于2004年11月21日投放市场，于2004年11月1日在Tokyo Big Sight举办的“第22届日本国际机床交易会（JIMTOF2004）”上展出。
2001年，三丰将MF-A/MF-UA系列测量显微镜投入生产和销售，并以此确定了其在光学测量仪生产商中的地位。为满足非接触高精度测量的需求，特别是在电子、半导体、信息技术和汽车制造领域，三丰作为综合测量仪制造商，集中技术力量开发出高精度测量显微镜。
Hyper MF/MF-U高精度测量显微镜的高刚性基座上装有无突出部位的XY工作台，以及低膨胀系数光栅尺。因此，这种新型显微镜不仅具有X轴为250mm、Y轴为150mm的测量范围，同时还实现了(0.9+3L/1000)mm的高精度测量和30kg的最大负载。
各轴均采用电动控制，使用一个操纵杆便可实现0.1mm微调定位，以及30mm/sec的快速进给。此外，可通过操纵杆自由移动工作台—甚至可实现对角线方向移动—具有极强的可操作性。
Hyper MF-U可选配自动对焦功能，安装激光自动对焦装置后，可进行“跟踪对焦（Tracking Focus）”和具有高重复精度的“精确对焦（Just Focus）”两种方式的自动对焦，实现了极强的可操作性对焦和高重复精度对焦。
选装QM-Data200 或影像装置后，便可实现数据处理器的功能。能够通过精度补偿功能和其它多种测量功能真正实现高效、高精度测量。